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本文针对芯片中功耗高、测试成本较高的问题进行分析与研究,以一款乘加器为例,该乘加器可以切换在乘、加、乘加3种工作状态.在芯片设计过程中,利用统一标准格式技术实现多电压设计达到低功耗的效果,利用扫描链技术,完成可测试性设计,降低芯片的测试成本,并解决了两种技术的兼容性问题.
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电气技术
ISSN： 1673-3800
CN： 11-5255/TM
Year： 2020
Issue： 6
Volume： 21
Page： 35-38
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