• Complex
  • Title
  • Keyword
  • Abstract
  • Scholars
  • Journal
  • ISSN
  • Conference
成果搜索

author:

俞珊 (俞珊.) [1] | 徐志望 (徐志望.) [2] | 董纪清 (董纪清.) [3] (Scholars:董纪清)

Indexed by:

CQVIP CSCD

Abstract:

在开关电源产品中,电解电容是不可或缺的关键储能与电能变换元件.然而,在高纹波电流、高温的功率变换应用场合中,相对于其他电子元器件,电解电容的寿命是最短的.因此,电解电容是制约电源产品使用寿命的关键元件.首先从电解电容的内部结构与失效机理出发,指出温度是影响电解液挥发速率的最重要影响因子,并分别分析环境温度与纹波电流对电解电容使用寿命的影响.最后,以一台240 W高频开关电源样机中PFC母线电解电容为例,通过两种方式测量电容内部温升,测算的电容使用寿命满足产品整机规格要求.

Keyword:

失效机理 寿命预测 电解电容 阿氏模型

Community:

  • [ 1 ] [俞珊]福州大学
  • [ 2 ] [徐志望]福建睿能科技股份有限公司,福州,350002
  • [ 3 ] [董纪清]福州大学

Reprint 's Address:

Email:

Show more details

Related Keywords:

Related Article:

Source :

电源学报

ISSN: 2095-2805

CN: 12-1420/TM

Year: 2016

Issue: 6

Volume: 14

Page: 87-92,121

Cited Count:

WoS CC Cited Count:

SCOPUS Cited Count:

ESI Highly Cited Papers on the List: 0 Unfold All

WanFang Cited Count: -1

Chinese Cited Count:

30 Days PV: 2

Online/Total:1317/9719606
Address:FZU Library(No.2 Xuyuan Road, Fuzhou, Fujian, PRC Post Code:350116) Contact Us:0591-22865326
Copyright:FZU Library Technical Support:Beijing Aegean Software Co., Ltd. 闽ICP备05005463号-1