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采用原子力显微镜对微纳米间隙下硅基片与纯角鲨烷液体固－液接触面的边界滑移进行试验研究，同时考虑固－液接触面处双电层力，拟合SiO2小球与固体试样的表面电荷密度以及角鲨烷流体动压力。结果表明，在不考虑小球重力、惯性力及分子间作用力的情况下，小球在垂直趋近固体试样的过程中主要受力为双电层力及流体动压力，在低速时，双电层力占主导地位；在角鲨烷液体环境中，探针趋近硅基片的过程中，双电层力表现为引力，且其大小与趋近速度无关；在试验的趋近速度范围内， Si （100）表面与角鲨烷的接触面均会产生边界滑移，且滑移长度随着速度的增大而升高。
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润滑与密封
ISSN： 0254-0150
CN： 44-1260/TH
Year： 2016
Issue： 2
Page： 65-70
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