Abstract：
扫描技术已经成为集成电路设计的一个重要组成部分,详细介绍了基于扫描测试的DFT原理和实现步骤,并对扫描测试问题进行分析,最后分析了导致故障覆盖率不同的一些因素。
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Source ：
中国集成电路
Year： 2014
Issue： 08
Volume： 23
Page： 20-23
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