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采用提拉法生长了Ba2TiSi2O8(BST)晶体,并采用SEM和EDS等手段对晶体内部包裹物缺陷进行了分析。发现多晶原料中的Na,K,Cl杂质元素的存在是导致晶体内部产生包裹物缺陷的主要诱因,采用低的生长速率和较快的晶体转速有利于获得高质量BTS单晶。另外,本论文还对晶体的硬度和透过光谱进行了测试与分析。
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人工晶体学报
Year： 2013
Issue： 12
Volume： 42
Page： 2495-2499,2531
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