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能否准确对精密光学元件表面评价势必影响着光学元件研制与生产，其中中频误差的提取逐渐显得重要。提出了利用双树复小波变换( DT－CWT)对精密光学元件表面提取信号进行多尺度分解，以定义的均方根波长确定其双树复小波分解次数，进行中频误差的提取与识别。此方法应用于精磨和镀膜的精密光学元件表面中，实验证实该方法不仅可以应用于一维信号的提取，同样也适合三维表面中频波段面形误差的提取。
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机械制造与自动化
ISSN： 1671-5276
CN： 32-1643/TH
Year： 2015
Issue： 5
Page： 85-88
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