Indexed by：
Abstract：
用透射电镜定位观察研究了在室温下高纯单晶硅显微压痕表面radial脆性微裂纹的纳观形变,阐述了塑性变形对微裂纹形核、扩展及开裂的影响.发现:室温下单晶硅的压痕前沿经历了极复杂的非线性演化:前沿区的位错发射与运动(Kcleave＞Kemit时)、解理微纹形核与扩展(σ塞＞σth时).观察到压痕前沿发生塑性诱导解理和解理胚不连续形核与扩展的过程.
Keyword：
Reprint 's Address：
Email：
Source ：
电子显微学报
ISSN： 1000-6281
Year： 2002
Issue： 1
Volume： 21
Page： 56-58
Cited Count：
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count：
Chinese Cited Count： -1
30 Days PV： 1
Affiliated Colleges：
