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本发明涉及本发明涉及一种基于L1范数模型的超大规模集成电路(VLSI)标准单元全局布局方法，属于VLSI物理设计自动化技术领域，该方法先把电路表示为超图，将采用半周长线长计算且密度约束为非光滑的VLSI标准单元全局布局问题建模为L1范数最小化问题，然后在聚类阶段采用适用于L1范数模型的修正的最优选择聚类算法对单元进行聚类，接着在析散阶段用非线性规划全局布局方法对聚类进行析散。该方法布局合理，高效实用，布局效果好。
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Type： 发明授权
Patent No.： CN201310412320.3
Filing Date： 2013/9/12
Publication Date： 2017/11/17
Pub. No.： CN103605820B
公开国别： CN
Applicants： 福州大学
Legal Status： 授权
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30 Days PV： 4
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