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本实用新型涉及一种用于磁芯参数测量的环形线圈结构，包括环形磁芯与绕组，其绕组包括围绕磁环径向截面绕制的第一部分以及沿着磁环圆周方向返绕一圈的第二部分。本实用新型提出的环形线圈绕制方式能够消除外部磁场以及环形电感线圈磁场自身泄露对空心电感或磁芯电感参数测量的影响，从而保证环形磁芯样品测量的准确性与可靠性。同时本实用新型还提供了另一种技术方案能够消除由于匝数增加而导致的寄生电容的增加。
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Type： 实用新型
Patent No.： CN202020870485.0
Filing Date： 2020-05-22
Publication Date： 2021-04-27
Pub. No.： CN213069016U
公开国别： CN
Applicants： 福州大学
Legal Status： 授权
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