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黄浩 (黄浩.) [1] | 唐电 (唐电.) [2] (Scholars:唐电) | 魏喆良 (魏喆良.) [3]

Abstract:

集成电路技术的发展对互连技术提出了新的需求,互连技术将面临着一系列新的挑战,其中Cu互连技术的发展已成为集成电路技术发展的动力.本文重点介绍了目前Al、Cu互连技术的现状和发展趋势,同时还分析了近期出现的Ag互连技术、碳纳米管互连技术、光互连技术等新型互连技术,最后对未来互连技术的发展趋势提出作者的思考与展望.

Keyword:

互连技术 光互连 半导体互连 碳纳米管互连 金属互连

Community:

  • [ 1 ] [黄浩]福州大学
  • [ 2 ] [唐电]福州大学
  • [ 3 ] [魏喆良]福州大学

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Source :

福建冶金

ISSN: 1672-7665

CN: 35-1143/TF

Year: 2004

Issue: 1

Page: 35-38

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30 Days PV: 1

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